İç Sayfa

haber

Hassas Kristal Yönlendirme ve Kesiminde İkincil Sıkıştırma Hataları Nasıl Ortadan Kaldırılır?

1. Malzeme Biliminde Hassasiyetle İlgili Zorluklar: Gelişmiş malzeme araştırmaları alanında, özellikle Silisyum Karbür (SiC) ve Galyum Nitrür (GaN) gibi geniş bant aralıklı yarı iletken malzemeler söz konusu olduğunda, kristal yönelimi belirleyici öneme sahiptir. Sadece 0,1 derecelik bir sapma bile elektron hareketliliğinde, termal iletkenlikte ve epitaksiyel büyümenin kalitesinde önemli dalgalanmalara yol açabilir.

2026/04/20
DAHA FAZLA OKU
Son fiyat olsun? En kısa sürede cevap vereceğiz (12 saat içinde)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required
For a better browsing experience, we recommend that you use Chrome, Firefox, Safari and Edge browsers.